1UTC - Université de Technologie de Compiègne (Université de Technologie de Compiègne - Centre de Recherche de Royallieu - rue du Docteur Schweitzer- CS 60319 - 60203 COMPIEGNE Cedex - France)
2Roberval - Roberval (Université de Technologie de Compiègne - Centre de Recherche de Royallieu - rue du Docteur Schweitzer- CS 60319 - 60203 COMPIEGNE Cedex - France)
UTC - Université de Technologie de Compiègne (Université de Technologie de Compiègne - Centre de Recherche de Royallieu - rue du Docteur Schweitzer- CS 60319 - 60203 COMPIEGNE Cedex - France)
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Contributor : Guy Friedrich
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Submitted on : Friday, January 4, 2019 - 4:45:23 PM
Last modification on : Monday, April 1, 2019 - 12:58:02 PM
L. Gagneur, L. Driemeyer-Franco, C. Forgez, Guy Friedrich. Modeling of the diffusion phenomenon in a lithium-ion cell using frequency or time domain identification. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2013, 53 (6), pp.784-796. ⟨hal-01970016⟩
